• Title of article

    Parametric description of the effect of electron irradiation on recombination lifetime in silicon layers: an experimental approach

  • Author/Authors

    Daliento، نويسنده , , S، نويسنده , , Sanseverino، E. Riva نويسنده , , A، نويسنده , , Anthony Spirito، نويسنده , , P، نويسنده , , Zeni، نويسنده , , L.، نويسنده ,

  • Issue Information
    روزنامه با شماره پیاپی سال 1999
  • Pages
    7
  • From page
    117
  • To page
    123
  • Keywords
    radiation effects , semiconductordevice modeling. , Charge carrier lifetime
  • Journal title
    IEEE TRANSACTIONS ON POWER ELECTRONICS
  • Serial Year
    1999
  • Journal title
    IEEE TRANSACTIONS ON POWER ELECTRONICS
  • Record number

    339952

    • Link To Document
    https://search.isc.ac/dl/search/defaultta.aspx?DTC=10&DC=339952