Title of article
Failure dynamics of the IGBT during turn-off for unclamped inductive loading conditions
Author/Authors
Chih-Chieh Shen، نويسنده , , Hefner، نويسنده , , A.R.، نويسنده , , Jr.، نويسنده , , Berning، نويسنده , , D.W.، نويسنده , , Bernstein، نويسنده , , J.B.، نويسنده ,
Issue Information
روزنامه با شماره پیاپی سال 2000
Pages
11
From page
614
To page
624
Keywords
insulated gate bipolar transistor , modeling , Nondestructive testing , reverse-bias safe operation area. , avalanche , current constriction , Filament , Failure
Journal title
IEEE Transactions on Industry Applications
Serial Year
2000
Journal title
IEEE Transactions on Industry Applications
Record number
380980
Link To Document