Title of article
Fast interface characterization of tunnel oxide MOS structures
Author/Authors
Sell، نويسنده , , B.، نويسنده , , Schumann، نويسنده , , D.، نويسنده , , Krautschneider، نويسنده , , W.H، نويسنده ,
Issue Information
روزنامه با شماره پیاپی سال 2002
Pages
4
From page
110
To page
113
Keywords
oxide thickness , quantum mechanical corrections. , Capacitance measurements , flatband potential
Journal title
IEEE Transactions on Nanotechnology
Serial Year
2002
Journal title
IEEE Transactions on Nanotechnology
Record number
398299
Link To Document