Title of article
Reliability scaling issues for nanoscale devices
Author/Authors
McMahon، نويسنده , , W.، نويسنده , , Wafaa M. Haggag، نويسنده , , A.، نويسنده , , Hess، نويسنده , , K.، نويسنده ,
Issue Information
روزنامه با شماره پیاپی سال 2003
Pages
6
From page
33
To page
38
Keywords
Dielectric breakdown , hot-carrier , silicon. , MOSFET
Journal title
IEEE Transactions on Nanotechnology
Serial Year
2003
Journal title
IEEE Transactions on Nanotechnology
Record number
398565
Link To Document