Title of article
Run-Time Data-Dependent Defect Tolerance for Hybrid CMOS/Nanodevice Digital Memories
Author/Authors
Sun، نويسنده , , F.، نويسنده , , Feng، نويسنده , , L.، نويسنده , , Zhang، نويسنده , , T.، نويسنده ,
Issue Information
روزنامه با شماره پیاپی سال 2008
Pages
6
From page
217
To page
222
Keywords
CMOS , defect tolerance , digital memory , errorcontrol codes , nano device , storage capacity.
Journal title
IEEE Transactions on Nanotechnology
Serial Year
2008
Journal title
IEEE Transactions on Nanotechnology
Record number
399042
Link To Document