بررسي تاثير Al در لايه نازك ZnO-Bi2O3

Study of the presence of Al in ZnO-Bi2O3 thin film

لايه هاي نازك ZnO-Bi2O و Al-ZnO-Bi2O3 ، Al-ZnO-Bi2O3-Alبر روي زير لايه شيشه اي به روش تبخير در خلا لايه نشاني شده و با روشهاي نشاندن الكترود ، دستگاه چهار پروبي و چسب مسي ، مشخصات I-Vآنها رسم شده و اين روشها و تأثير اين روشها بر روي نمونه ها بررسي شده است. تصوير ميكروسكوپ اپتيكي از نمونه با تماس چسب مسي و تماسهاي الكترودي تغيير ساختار بوجود آمده در روي نمونه ها را در ناحيه تماسها نشان مي دهد.

Al-ZnO-Bi2O3-Al , Al-ZnO-Bi2O3 and ZnO-Bi2O3 thin films are prepared on glass substrate by physical vapor deposition technique and their I-V characteristic are considered by three different contact methods; electrode contacts , four point probe and silver paste contacts. These methods and their effect on samples are compared. Optical microscope images reveal structured changes between the samples