AMR و GMR در فيلم هاي نازك و چندلايه اي هاي Ni-Cu/Cu

AMR and GMR in thin films and multilayers Ni-Cu/Cu

در اين پژوهش، ابتدا فيلم هاي نازك Ni - Cu و سپس چند لايه اي هاي Ni - Cu / Cu به روش الكترو انباشت از محلول نيكل سولفاميت به ترتيب در مد گالوانواستات براي فيلم هاي نازك و مد گالوانواستات - پتانسيواستات (براي نمونه هاي چند لايه اي) تهيه شدند. پس از آن مشخصه هاي مغناطو مقاومت (MR) فيلم ها و چندلايه اي ها در دماي اتاق به عنوان تابعي از چگالي جريان و غلظت يون * Cu2در الكتروليت بررسي شد. منحني هاي مغناطو مقاومت حاكي از مغناطو مقاومت ناهمسانگرد (AMR) در فيلمهاي نازك و مغناطو مقاومت بزرگ (GMR) در نمونه هاي چند لايه اي بود. در نهايت منحني مغناطش نمونه ها نيز با استفاده از VSM بررسي شد.

In this research, at first Ni-Cu thin films and then Ni-Cu/Cu multilayers were prepared by electrodeposition method from a Ni-sulfamate solution with galvanostat (for thin films) and galvanostat-potentiostat (for multilayers samples) conditions. Then magnetoresistance (MR) characteristics of the films and multilayers were investigated at room temperature as a function of the current density and concentration of Cu2+ ion in electrolyte. Magnetoresistance curves confirmed that all thin films showed anisotropic magnetoresistance (AMR) and multilayer samples showed giant magnetoresistance (GMR ) respectively. Finally the magnetization curves of the samples were investigated by a vibrating sample magnetometer VSM