اثر توپوگرافي در تعيين ژئوييد با استفاده از مدل هاي ژئوپتانسيل

وجود توپوگرافی در بالای ژئویید مانع بزرگی برای تعیین ارتفاع ژئویید با استفاده از مدل های ژئوپتانسیل محسوب می گردد. مدل های ژئوپتانسیل جهانی امكان مدل سازی میدان پتانسیل زمین را به صورت بسط سری خارجی از هارمونیك های كروی فراهم می سازند. استفاده از این بسط برای تعیین آنومالی پتانسیل بروی ژئویید در داخل توپوگرافی سبب تولید یك بایاس می شود كه به آن بایاس توپوگرافی می گویند. در این مطالعه به دو روش، انتقال تحلیلی و رَپ جهت محاسبه بایاس توپوگرافی پرداخته می شود. این دو روش برای 490 نقطه GPS-Levelling در یك منطقه كوهستانی امریكا مورد ارزیابی قرار گرفت. بیشینه مقدار بایاس توپوگرافی در روش انتقال تحلیلی و رپ به ترتیب 1.302 و 1.554 متر بدست آمد. نتایج نشان داد كه ژئویید حاصل از دو روش مطابقت خوبی با دقت سانتی متر بر یكدیگر دارند كه در قیاس با ژئویید هندسی حاصل از داده های GPS-Levelling، برتری دقت روش انتقال تحلیلی به میزان 3.4 سانتی متر در خطای جذر میانگین مربعات حاصل گردید.