طيف‌سنجي جذب پرتو X و بررسي ساختاري با استفاده از اين روش

طيف سنجي ريز ساختار جذب پرتو XAFS) X) به روشي گفته مي شود كه بيان كننده چگونگي جذب پرتو X در يك اتم مورد نظر در لايه هاي الكتروني نزديك و دور هسته در انرژي هاي مربوطه مي باشد به طور ويژه طيف سنجي ريز ساختار جذب پرتو X الگويي از جذب پرتو ايكس يك اتم به دليل حالت هاي شيميايي و فيزيكي آن اتم است. طيف هاي ريز ساختار جذب پرتو X به طور كلي به عدد اكسايش شيمي كئورديناسيون فاصله هاي پيوندي عدد كئورديناسيون و نوع گروه هاي همسايه اتم جذب كننده بستگي دارند به دليل اين وابستگي طيف سنجي ريز ساختار جذب پرتو X، روشي مفيد و ساده براي تعيين حالت هاي شيميايي و هندسي در تركيب هاي مشخص مي باشد. از طيف سنجي ريز ساختار جذب پرتو X مي توان در انواع سامانه ها و محيط هاي فيزيكي مختلف استفاده كرد طيف سنجي ريز ساختار جذب پرتو X در دامنه گسترده اي از زمينه هاي علمي از جمله زيست شناسي علوم زيست محيطي كاتاليست ها و علم مواد استفاده مي.شود در اين بررسي ساختار چند تركيب معدني با طيف سنجي پرتو ايكس بررسي مي شود.