پهن شدگي دوپلري گاماهاي نابودي پوزيترون در ورقه هاي سيليكوني نوع ان و پي تابش ديده توسط گاما، نوترون و الكترون

پهن‌شدگي دوپلري گاماهاي ناشي از نابودي پوزيترون در ورقه‌هاي سيليكوني نوع ان و پي كه استفاده فراواني در صنعت الكترونيك دارند، اندازه‌گيري شد. ورقه‌ها تحت تابش الكترون‌هاي 10 مگاالكترون‌ولتي (30 كيلوگري)، ‌گاماهاي چشمه كبالت 60 (175 كيلوگري) و شار نوترون حرارتي راكتور (0.038 گري) قرار گرفته‌اند. در اين تحقيق از يك سامانه متداول همزماني طيف‌‌سنجي نابودي پوزيترون، شامل يك آشكارساز فوق‌خالص ژرمانيوم، يك آشكارساز سوسوزن و چشمه پوزيترون‌دهنده سديم 22، استفاده شده است. فعاليت نمك پرتوزا، 7 ميكروكوري است كه بين دو لايه نازك پليمري، هر كدام به ضخامت 7 ميكرومتر، ساندويج شده است. نتايج اين تحقيق حاكي از ايجاد نقص قابل مشاهده در نمونه‌هاي سيليكوني تابش ديده با الكترون است.