Title of article
An improved testing scheme for catastrophic fault patterns
Author/Authors
A. Nayak، نويسنده , , J. Ren، نويسنده , , N. Santoro، نويسنده ,
Issue Information
دوهفته نامه با شماره پیاپی سال 2000
Pages
8
From page
199
To page
206
Keywords
Algorithms , Catastrophic faults , Testing schemes , Redundant arrays
Journal title
Information Processing Letters
Serial Year
2000
Journal title
Information Processing Letters
Record number
129196
Link To Document