Author/Authors :
Gatto، نويسنده , , A. and Feigl، نويسنده , , T. and Kaiser، نويسنده , , N. and Garzella، نويسنده , , D. and De Ninno، نويسنده , , G. and Couprie، نويسنده , , M.E. and Marsi، نويسنده , , M. and Trovٍ، نويسنده , , M. and Walker، نويسنده , , R. and Grewe، نويسنده , , M. and Wille، نويسنده , , K. and Paoloni، نويسنده , , S. and Reita، نويسنده , , V. and Roger، نويسنده , , J.P. and Boccara، نويسنده , , C. and Torchio، نويسنده , , P. and Albrand، نويسنده , , G.، نويسنده ,
Abstract :
The advanced understanding of the complete degradation phenomena is crucial in order to develop robust optics for FEL. Under very harsh Synchrotron Radiation conditions, results show that multiscale wavelength damages could be observed, inducing local crystalline structure modifications of the high optical index material with a severe increase of the surface roughness.
Keywords :
Optical design and fabrication , Optical properties , Thin films , Materials and process characterisation
