Title of article :
Scanning Kelvin probe and photoemission electron microscopy of organic source-drain structures
Author/Authors :
Müller، نويسنده , , K. and Goryachko، نويسنده , , A. and Burkov، نويسنده , , Y. and Schwiertz، نويسنده , , C. and Ratzke، نويسنده , , M. and Kِble، نويسنده , , Z. Sun and J. H. Reif، نويسنده , , J. and Schmeiكer، نويسنده , , D.، نويسنده ,
Issue Information :
دوماهنامه با شماره پیاپی سال 2004
Pages :
6
From page :
377
To page :
382
Abstract :
In order to optimize organic field effect transistors (OFETs), the characterisation of active-layer surfaces in terms of their roughness, chemical composition and distribution of surface potentials is important. We report on high-resolution microscopic ma
Keywords :
Scanning Kelvin probe microscopy (SKPM) , OFET , Photoemission electron microscopy (PEEM)
Journal title :
Synthetic Metals
Serial Year :
2004
Journal title :
Synthetic Metals
Record number :
2080968
Link To Document :
بازگشت