Author/Authors :
Adam، نويسنده , , W and Bosio، نويسنده , , C and Chochula، نويسنده , , P and Cindro، نويسنده , , V and Krammer، نويسنده , , M and Leder، نويسنده , , G and Mariotti، نويسنده , , C and Masik، نويسنده , , J and Margan، نويسنده , , E and Neufeld، نويسنده , , N and Pernegger، نويسنده , , H and Pernicka، نويسنده , , M and Rakoczy، نويسنده , , D and Rykalin، نويسنده , , V and ?ontar، نويسنده , , D، نويسنده ,
Abstract :
We present the results of final acceptance tests of the DELPHI VFT ministrip detector before and during detector assembly. Dedicated tests were carried out to detect substandard channels, measure the SN performance and test the assembled detector for electronic failures.
