Author/Authors :
Rzadkiewicz، نويسنده , , J. and Dominik، نويسنده , , Peter W. and Scholz، نويسنده , , M. and Chernyshova، نويسنده , , M. and Czarski، نويسنده , , T. and Czyrkowski، نويسنده , , H. and Dabrowski، نويسنده , , R. and Jakubowska، نويسنده , , K. and Karpinski، نويسنده , , L. and Kasprowicz، نويسنده , , G. and Kierzkowski، نويسنده , , K. and Pozniak، نويسنده , , K. and Salapa، نويسنده , , Z. and Zabolotny، نويسنده , , W. and Blanchard، نويسنده , , P. and Tyrrell، نويسنده , , S. and Zastrow، نويسنده , , K.-D.، نويسنده ,
Abstract :
Upgraded high-resolution X-ray diagnostics on JET is expected to monitor the plasma radiation emitted by W46+ and Ni26+ ions at 2.4 keV and 7.8 keV photon energies, respectively. Both X-ray lines will be monitored by new generation energy-resolved micropattern gas detectors with 1-D position reconstruction capability. The detection structure is based on triple GEM (T-GEM) amplification structure followed by the strip readout electrode. This article presents a design of new detectors and prototype detector tests.
Keywords :
MPGD , Plasma diagnostic techniques and instrumentation , X-ray measurements , GEM
