Title of article :
Growth, Characterization of Cu Nanoparticles Thin Film by Nd: YAG Laser Pulses Deposition
Author/Authors :
Al-Kinany، Maha نويسنده Laser physics, University of Babylon, College of Science for Women, Iraq , , Al-Dahash ، Ghaleb A. نويسنده Laser physics, University of Babylon, College of Science for Women, Iraq , , Al-Shahban ، Jasim نويسنده Laser physics, University of Babylon, College of Science for Women, Iraq ,
Issue Information :
فصلنامه با شماره پیاپی 0 سال 2014
Abstract :
ما رشد و شناسايي فيلم نازك نانو ذره مس روي لايه شيشه اي بوسيله روش انباشت ليزر پالسي گزارش كرديم. فيلم نازك مس با انرژي متفاوت 80,70,60,50 mjآماده شد. تاثير انرژي روي مورفولوژي ، سااختار و خواص نوري بوسيله AFM، XRD و اسپكتروفتومتر UV-VIS مطالعه شد. توپوگرافي سطح بوسيله ميكروسكوپ نيروي اتمي مطالعه شد كه توزيع اندازه باريك با محدوده ي سايز ذرات از 65.8 تا 90.09 نانومترنشان داد. نتايج نشان داد ميانگين اندازه Granبا افزايش انرژي و RMS زبري با افزايش انرژي افزايش يافت.پراش پرتو ايكس فاز نانو ساختار با (2?=43.297 , 50.433) نشان داد. نتايج نشان داد با افزايش ضخامت فيلم ها ي مس تبلور در جهت 111 افزايش مي يابد. اندازه گيري خواص نوري نشان داد انتقال از خواص فلزي بالك مس به خواص نيمه هادي را وقتي كه بوسيله نوعي از نانو ساختار هاي مشهود بوسيله شكل گيري گپانرژي نوري در حدود(3.45-3.89) با شرايط متفاوت تشكيل مي شود.وقتي ضخامت نمونه افزايش مي يابد تبلور و ميانگين سايز دانه ها بهبود مي يابد.
Abstract :
We report the growth and characterization of Cu nanoparticles thin film of on glass substrate by pulse laser deposition method. The Cu thin film prepared with different energy 50, 60, 70, and 80 mJ. The energy effect on the morphological, structural and optical properties were studied by AFM, XRD and UV-Visible spectrophotometer. Surface topography studied by atomic force microscopy revealed narrowed size distributions, with particle sizes ranging from 65.8 to 90.09 nm. The results showed the Average Gran Size increased with increasing energy and RMS roughness increased with increasing energy. X-ray diffraction showed nanostructure phase With ( 2? = 43.297, 50.433 degree). The results show that by increasing thickness, the copper films crystallinity in (111) direction increases. Optical properties measurements showed transformation from metallic properties of bulk Cu to semiconductor properties when formed by sort of nanostructure evidenced by the formation of optical energy gap about (3.45 to 3.89 eV) with different conditions. When the thickness of samples is increased the crystallinity and the mean grain size improved.
Journal title :
Journal of NanoStructures
Journal title :
Journal of NanoStructures