Author/Authors :
Appel، نويسنده , , J.A. and Artuso، نويسنده , , M and Butler، نويسنده , , J.N. and Cancelo، نويسنده , , G and Cardoso، نويسنده , , G and Cheung، نويسنده , , H and Chiodini، نويسنده , , G and Christian، نويسنده , , D.C. and Colautti، نويسنده , , A and Coluccia، نويسنده , , R and Di Corato، نويسنده , , M and Gottschalk، نويسنده , , E.E. and Hall، نويسنده , , B.K. and Hoff، نويسنده , , J and Kasper، نويسنده , , P.A and Kutschke، نويسنده , , R and Kwan، نويسنده , , S.W and Mekkaoui، نويسنده , , A and Menasce، نويسنده , , D and Newsom، نويسنده , , C and Sala، نويسنده , , S and Yarema، نويسنده , , R and Wang، نويسنده , , J.C. and Zimmermann، نويسنده , , S، نويسنده ,
Keywords :
Calibration , Silicon , Beam test , RESOLUTION , pixel , BTeV