مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - Focused Ion Beam (FIB) tomography of nanoindentation damage in nanoscale metal/ceramic multilayers

Title of article :

Focused Ion Beam (FIB) tomography of nanoindentation damage in nanoscale metal/ceramic multilayers

Author/Authors :

Singh، نويسنده , , D.R.P. and Chawla، نويسنده , , N. and Shen، نويسنده , , Y.-L.، نويسنده ,

Issue Information :

روزنامه با شماره پیاپی سال 2010

Pages :

From page :

481

To page :

488

Keywords :

3D materials science , Serial sectioning , Focused ion beam (FIB) , Nanoindentation

Journal title :

Materials Characterization

Serial Year :

2010

Journal title :

Materials Characterization

Record number :

2267758

Link To Document :