Analysis of cross-correlation of interface roughness in multilayer structures with ultrashort periods
Author/Authors :
Yu. A. Vainer، نويسنده , , A. E. Pestov، نويسنده , , L. E. Semenova and K. A. Prokhorov ، نويسنده , , N. N. Salashchenko، نويسنده , , A. A. Fraerman، نويسنده , , V. V. Chernov and N. I. Chkhalo ، نويسنده ,
