Title of article :
A novel long trace profiler for synchrotron radiation optics
Author/Authors :
Zhi Li ، نويسنده , , Yang Zhao، نويسنده , , Dacheng Li and Yongtian Wang، نويسنده , , Tiqiao Xiao and Shaojian Xia، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2005
Keywords :
Super-large surface metrology , Long trace profiler , Aspheric optics testing
Journal title :
OPTICS & LASER TECHNOLOGY
Journal title :
OPTICS & LASER TECHNOLOGY