مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - Failure mechanisms of IGBTs under short-circuit and clamped inductive switching stress

Title of article :

Failure mechanisms of IGBTs under short-circuit and clamped inductive switching stress

Author/Authors :

Trivedi، نويسنده , , M، نويسنده , , Shenai، K. نويسنده , , K.، نويسنده ,

Issue Information :

روزنامه با شماره پیاپی سال 1999

Pages :

From page :

108

To page :

116

Journal title :

IEEE TRANSACTIONS ON POWER ELECTRONICS

Serial Year :

1999

Journal title :

IEEE TRANSACTIONS ON POWER ELECTRONICS

Record number :

339951

Link To Document :