Experimental Analysis of Punch-Through Conditions in Power P–I–N Diodes

T. B. Salah، نويسنده , , C. Buttay، نويسنده , , G. B. Allard، نويسنده , , H. Morel، نويسنده , , S. Ghedira، نويسنده , , K. Besbes، نويسنده ,

روزنامه با شماره پیاپی سال 2007

8

13

20

punch-through (PT) , reverse-recovery. , avalanche , -type , intrinsic , -type ( – – )diode

IEEE TRANSACTIONS ON POWER ELECTRONICS

2007

IEEE TRANSACTIONS ON POWER ELECTRONICS

340976