Title of article :
Accurate measurements of crystal structure factors using a FEG electron microscope
Author/Authors :
G. Ren، نويسنده , , J. M. Zuo ، نويسنده , , L. -M. Peng، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 1997
Keywords :
FEG , dynamical electron diffraction. , structure factors , GIF , CBED
