Title of article
Accurate measurements of crystal structure factors using a FEG electron microscope
Author/Authors
G. Ren، نويسنده , , J. M. Zuo ، نويسنده , , L. -M. Peng، نويسنده ,
Issue Information
روزنامه با شماره پیاپی سال 1997
Pages
9
From page
459
To page
467
Keywords
FEG , dynamical electron diffraction. , structure factors , GIF , CBED
Journal title
Micron
Serial Year
1997
Journal title
Micron
Record number
356711
Link To Document