Growth kinetics of CoSi2 and Ge islands observed with in situ transmission electron microscopy

F. M. Ross، نويسنده , , P. A. Bennett، نويسنده , , R. M. Tromp، نويسنده , , J. Tersoff ، نويسنده , , M. Reuter، نويسنده ,

روزنامه با شماره پیاپی سال 1999

12

21

32

Semiconductor growth , Silicide growth , Strained layer heteroepitaxy , Island formation , In situ ultra high vacuum transmission electron microscopy

Micron

1999

Micron

356761