مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - Towards nanoscale EXELFS analysis: limitation due to radiation damage

Title of article :

Towards nanoscale EXELFS analysis: limitation due to radiation damage

Author/Authors :

D. Haskel، نويسنده , , M. Sarikaya، نويسنده , , M. Qian ، نويسنده , , E. A. Stern، نويسنده ,

Issue Information :

روزنامه با شماره پیاپی سال 1999

Pages :

From page :

185

To page :

194

Keywords :

short-range order , Al , SiC , MgO , EXELFS , radiation damage

Journal title :

Micron

Serial Year :

1999

Journal title :

Micron

Record number :

356779

Link To Document :