Title of article
Towards nanoscale EXELFS analysis: limitation due to radiation damage
Author/Authors
D. Haskel، نويسنده , , M. Sarikaya، نويسنده , , M. Qian ، نويسنده , , E. A. Stern، نويسنده ,
Issue Information
روزنامه با شماره پیاپی سال 1999
Pages
10
From page
185
To page
194
Keywords
short-range order , Al , SiC , MgO , EXELFS , radiation damage
Journal title
Micron
Serial Year
1999
Journal title
Micron
Record number
356779
Link To Document