Title of article :
TEM sample preparation by ion milling/amorphization
Author/Authors :
a. Barna، نويسنده , , B. Pecz ، نويسنده , , M. Menyhard، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 1999
Pages :
10
From page :
267
To page :
276
Keywords :
Ion milling , damage , electron microscopy , Ion gun , amorphization
Journal title :
Micron
Serial Year :
1999
Journal title :
Micron
Record number :
356788
Link To Document :
بازگشت