The use of through focus exit wave reconstruction and quantitative electron diffraction in the structure determination of superconductors

H. W. Z، نويسنده , , bergen، نويسنده , , R. Bokel، نويسنده , , E. Connolly ، نويسنده , , J. Jansen، نويسنده ,

روزنامه با شماره پیاپی سال 1999

22

395

416

Electron microscopy , Through focus exit wave reconstruction , Atomic structure determination , Superconducting films

Micron

1999

Micron

356800