Author/Authors :
N. D. Browning، نويسنده , , J. P. Buban، نويسنده , , C. Prouteau، نويسنده , , Dr. G. Duscher، نويسنده , , S. J. Pennycook، نويسنده ,
Keywords :
Grain boundaries , Scanning transmission electron microscopy (STEM) , Atomic structure , Electron energy loss spectra(EELS) , Charge carrier depletion