مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - Scanning transmission electron microscopy studies of the microstructure and chemistry of the YBa2Cu3O7−δ/BaF2 interface

Title of article :

Scanning transmission electron microscopy studies of the microstructure and chemistry of the YBa2Cu3O7−δ/BaF2 interface

Author/Authors :

J. L. Lee، نويسنده , , C. A. Weiss، نويسنده , , R. A. Buhrman، نويسنده , , J. Silcox، نويسنده ,

Issue Information :

روزنامه با شماره پیاپی سال 1999

Pages :

From page :

437

To page :

447

Keywords :

Energy filtered imaging , Superconducting quantum interference devices , Scanning transmission electron microscope

Journal title :

Micron

Serial Year :

1999

Journal title :

Micron

Record number :

356803

Link To Document :