High resolution transmission electron microscopy to study very thin crystalline layers buried at an amorphous–crystalline interface

M. Re، نويسنده , , E. Carlino، نويسنده , , L. Sorba، نويسنده , , A. Franciosi ، نويسنده , , B. H. Muller، نويسنده ,

روزنامه با شماره پیاپی سال 2000

7

237

243

amorphous , HRTEM , Interface , HRTEM image simulation , Heterostructure

Micron

2000

Micron

356839