Author/Authors :
A. Agostiano، نويسنده , , M. Catalano، نويسنده , , M. L. Curri، نويسنده , , M. Della Monica، نويسنده , , L. Manna ، نويسنده , , L. Vasanelli، نويسنده ,
Keywords :
Surface modification , Nanoparticles , Semiconductor , Elecron microscopy , Reverse micelles , UV–Vis spectroscopy