Title of article :
Electron microscopy of life-tested semiconductor laser diodes
Author/Authors :
M. Vanzi، نويسنده , , A. Bonfiglio، نويسنده , , F. Magistrali ، نويسنده , , G. Salmini، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2000
Keywords :
EBIC , Laser diode , Focused ion beam , Recombination enhanced defect reaction , Reliability , Life-test , Catastrophical optical damage , TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY
