Microstructure and composition analysis of nanostructured materials using HREM and FEG-TEM

D. X. Li، نويسنده , , D. H. Ping، نويسنده , , J. Y. Huang، نويسنده , , Y. D. Yu ، نويسنده , , H. Q. Ye، نويسنده ,

روزنامه با شماره پیاپی سال 2000

6

581

586

nanostructured materials , Defect structure , Grain boundary , High-resolution electron microscope and field-emission-gun transmissionelectron microscope , Solubility

Micron

2000

Micron

356878