Title of article
Microstructure and composition analysis of nanostructured materials using HREM and FEG-TEM
Author/Authors
D. X. Li، نويسنده , , D. H. Ping، نويسنده , , J. Y. Huang، نويسنده , , Y. D. Yu ، نويسنده , , H. Q. Ye، نويسنده ,
Issue Information
روزنامه با شماره پیاپی سال 2000
Pages
6
From page
581
To page
586
Keywords
nanostructured materials , Defect structure , Grain boundary , High-resolution electron microscope and field-emission-gun transmissionelectron microscope , Solubility
Journal title
Micron
Serial Year
2000
Journal title
Micron
Record number
356878
Link To Document