Author/Authors :
M. T. Caldes، نويسنده , , P. Deniard، نويسنده , , X. D. Zou، نويسنده , , R. March، نويسنده , , N. Diot ، نويسنده , , R. Brec، نويسنده ,
Keywords :
Modulated structures , high resolution electron microscopy , Electron diffraction , image processing , X-ray diffraction , Electroncrystallography , Strontium tantalates , Perovskite-related structures , Rietveld re®nement