Title of article :
Three-dimensional atomic scale analysis of nanostructured materials
Author/Authors :
A. Cerezo، نويسنده , , M. Abraham، نويسنده , , P. Clifton، نويسنده , , H. Lane، نويسنده , , D. J. Larson، نويسنده , , A. K. Petford-Long، نويسنده , , M. Thuv، نويسنده , , er، نويسنده , , P. J. Warren، نويسنده , , G. D. W. Smith and B. Cantor، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2001
Pages :
9
From page :
731
To page :
739
Keywords :
Atom probe , Nanostructures , Nanocrystalline material , FINEMET , multilayers
Journal title :
Micron
Serial Year :
2001
Journal title :
Micron
Record number :
356963
Link To Document :
بازگشت