مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - Methods for atom probe analysis of microgradients in functionally graded cemented carbides

Title of article :

Methods for atom probe analysis of microgradients in functionally graded cemented carbides

Author/Authors :

R. Frykholm، نويسنده , , B. Jansson ، نويسنده , , H. -O. ، نويسنده , , ren، نويسنده ,

Issue Information :

روزنامه با شماره پیاپی سال 2002

Pages :

From page :

639

To page :

646

Keywords :

Gradient sintering , Focused ion beam milling , Specimen preparation

Journal title :

Micron

Serial Year :

2002

Journal title :

Micron

Record number :

357044

Link To Document :