Inelastic electron scattering observation using energy filtered transmission electron microscopy for silicon–germanium nanostructures imaging

R. Pantel، نويسنده , , S. Jullian، نويسنده , , D. Delille، نويسنده , , D. Dutartre، نويسنده , , A. Chantre، نويسنده , , O. Kermarrec، نويسنده , , Y. Campidelli ، نويسنده , , L. F. T. Z. Kwakman، نويسنده ,

روزنامه با شماره پیاپی سال 2003

9

239

247

Silicon–germanium , Energy filtered TEM , Electron spectroscopy imaging , STEM Z-contrast , Heterojunction bipolar transistor

Micron

2003

Micron

357076