Differential-aperture X-ray structural microscopy: a submicron-resolution three-dimensional probe of local microstructure and strain

Wenge Yang، نويسنده , , B. C. Larson، نويسنده , , J. Z. Tischler، نويسنده , , G. E. Ice، نويسنده , , J. D. Budai ، نويسنده , , W. Liu، نويسنده ,

روزنامه با شماره پیاپی سال 2004

9

431

439

X-ray microscopy , Diffraction , deformation , Microstructure , Strain

Micron

2004

Micron

357178