Formation and microstructural investigation of Ag–Cu alloy nanoclusters embedded in SiO2 formed by sequential ion implantation

F. Ren، نويسنده , , C. Z. Jiang، نويسنده , , L. Zhang، نويسنده , , Y. Shi، نويسنده , , J. B. Wang ، نويسنده , , R. H. Wang، نويسنده ,

روزنامه با شماره پیاپی سال 2004

5

489

493

Ion implantation , Nanocluster composites , distortion , Defects , High resolution transmission electron microscopy

Micron

2004

Micron

357186