Author/Authors :
L. -M. Peng، نويسنده , , Q. Chen، نويسنده , , X. L. Liang، نويسنده , , S. Gao، نويسنده , , J. Y. Wang ، نويسنده , , S. Kleindiek ، نويسنده , , S. W. Tai، نويسنده ,
Keywords :
Nanoprobes , nanomanipulation , Nanotechnology , Scanning electron microscope