مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - Atomic resolution STEM analysis of defects and interfaces in ceramic materials

Title of article :

Atomic resolution STEM analysis of defects and interfaces in ceramic materials

Author/Authors :

R.F. Klie ، نويسنده , , Y. Zhu، نويسنده ,

Issue Information :

روزنامه با شماره پیاپی سال 2005

Pages :

From page :

219

To page :

231

Keywords :

STEM , HAADF , Z-contrast imaging , SrTiO3 , TiO2-LaAlO3 , EELS , MgB2

Journal title :

Micron

Serial Year :

2005

Journal title :

Micron

Record number :

357233

Link To Document :