Title of article :
Comparison of Si and Ge low-loss spectra to interpret the Ge contrast in EFTEM images of Si1−x Gex nanostructures
Author/Authors :
R. Pantel، نويسنده , , M.C. Cheynet ، نويسنده , , F.D. Tichelaar، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2006
Keywords :
Energy filtered TEM , Energy loss spectroscopy , Si–Ge , Microelectronics
