مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - Pattern projection for subpixel resolved imaging in microscopy

Title of article :

Pattern projection for subpixel resolved imaging in microscopy

Author/Authors :

Dror Fixler، نويسنده , , Javier Garcia، نويسنده , , Zeev Zalevsky، نويسنده , , Aryeh Weiss ، نويسنده , , Mordechai Deutsch، نويسنده ,

Issue Information :

روزنامه با شماره پیاپی سال 2007

Pages :

From page :

115

To page :

120

Keywords :

Geometrical limitation , Microscopy

Journal title :

Micron

Serial Year :

2007

Journal title :

Micron

Record number :

357395

Link To Document :