Title of article :
Fracture tests of microsized TiAl specimens
Author/Authors :
T. P. HALFORD، نويسنده , , K. TAKASHIMA، نويسنده , , Y. Higo، نويسنده , , P. Bowen، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2005
Keywords :
fracture toughness , MEMS , Thinfilm , titanium aluminide.
Journal title :
Fatigue and Fracture of Engineering Materials and Structures
Journal title :
Fatigue and Fracture of Engineering Materials and Structures
