An Integrated CAD Methodology for Yield Enhancement of VLSI CMOS Circuits Including Statistical Device Variations

Massimo Conti، نويسنده , , Paolo Crippa، نويسنده , , Simone Orcioni، نويسنده , , Marcello Pesare، نويسنده , , Simone Orcioni and Claudio Turchetti ، نويسنده , , Loris Vendrame and Silvia Lucherini ، نويسنده ,

روزنامه با شماره پیاپی سال 2003

18

85

102

parametric yield , device mismatch , optimization , statistical process variations , CAD tool

Analog Integrated Circuits and Signal Processing

2003

Analog Integrated Circuits and Signal Processing

367373