مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - Switched-current circuits test using pseudo-random method

Title of article :

Switched-current circuits test using pseudo-random method

Author/Authors :

Guo Jierong، نويسنده , , He Yigang، نويسنده , , Tang Shengxue، نويسنده , , Li Hongmin، نويسنده , , Liu Meirong and Liu Hui ، نويسنده ,

Issue Information :

روزنامه با شماره پیاپی سال 2007

Pages :

From page :

To page :

Keywords :

Switched current (SI) Pseudo-Random Fault model

Journal title :

Analog Integrated Circuits and Signal Processing

Serial Year :

2007

Journal title :

Analog Integrated Circuits and Signal Processing

Record number :

367791

Link To Document :