Title of article :
Power-oriented partial-scan design approach
Author/Authors :
Jou، نويسنده , , J.-Y.; Nien، نويسنده , , M.-C.، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 1998
Keywords :
Automatic test pattern genevation , Partial scan approach , VLSL Algorithms , Design
Journal title :
I E T Circuits, Devices and Systems
Journal title :
I E T Circuits, Devices and Systems
