مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - Test of data retention faults in CMOS SRAMs using special DFT circuitries

Title of article :

Test of data retention faults in CMOS SRAMs using special DFT circuitries

Author/Authors :

Champac، نويسنده , , V.H.; Avendano، نويسنده , , V.، نويسنده ,

Issue Information :

روزنامه با شماره پیاپی سال 2004

Pages :

From page :

To page :

Journal title :

I E T Circuits, Devices and Systems

Serial Year :

2004

Journal title :

I E T Circuits, Devices and Systems

Record number :

371604

Link To Document :