Overview of the impact of downscaling technology on 1/f noise in p-MOSFETs to 90 nm

Valenza، نويسنده , , M.; Hoffmann، نويسنده , , A.; Sodini، نويسنده , , D.; Laigle، نويسنده , , A.; Martinez، نويسنده , , F.; Rigaud، نويسنده , , D.، نويسنده ,

روزنامه با شماره پیاپی سال 2004

9

102

110

I E T Circuits, Devices and Systems

2004

I E T Circuits, Devices and Systems

371609