Title of article :
Low-frequency noise and radiation response of buried oxides in SOI nMOS transistors
Author/Authors :
Xiong، نويسنده , , H.D.; Fleetwood، نويسنده , , D.M.; Schwank، نويسنده , , J.R.، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2004
Pages :
7
From page :
118
To page :
124
Journal title :
I E T Circuits, Devices and Systems
Serial Year :
2004
Journal title :
I E T Circuits, Devices and Systems
Record number :
371611
Link To Document :
https://search.isc.ac/dl/search/defaultta.aspx?DTC=10&DC=371611
